仪器设备

热场发射扫描电子显微镜与能谱分析仪

文章来源:发布时间:2016-04-22打印】【关闭

仪器名称

热场发射扫描电子显微镜与能谱分析仪

仪器型号

日本电子JSM-7001F

放置部门

颗粒分中心

放置地点

大厦128房间

管理员

王雅洁

设备原值

230万

联系电话

010-82545018

Email

jwang19@ipe.ac.cn

功能

形貌观察:金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二维和三维材料的表面、断面形貌观察;纳米材料显微结构、尺寸分析;材料微结构及相分布观察。组成分析:各种粉末和固体块的Be-U元素组成和元素分布观察;线分析、面分析功能。扫描速度快,面分布仅1min即可分析。 

具有高分辨率性能,可以在中至高电压千伏(kV)和更高的束流下对非导电样品进行成像。可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技术

技术参数指标

 分辨率:2 nm(30 kV)/3.0 nm(1kV);加速电压:0.5kV-30kV,放大倍数:10-500K;浸没式热场发射电子枪,束流强度最大200nA,具有大束流高分辨特点,其中在5nAWD10mm\15kV时分辨率3.0nm;自动光阑角控制器,无需调整光阑;全自动控制聚焦、合轴、消像散、控制扫描速度;无漏磁物镜设计,便于磁性样品观测;适于配合多种分析性探头;能谱探头面积高达50mm2的有效活区;输入计数率>500,000cps,采集计数率>200,000cpsMn K典型分辨率<125evC Kα<48ev

对外服务时间及收费

对外服务时间: 

周一至周五830—1730,统一在中科院仪器平台上预约。 

收费标准:300/小时,能谱150/样品,背散50/样品。

                                 备注