离子减薄仪

徕卡EM TXP可以改变样品观察角度，0°－60°可调，或者垂直于样品前表面90°观察，可利用目镜刻度标尺测量距离。 

    Leica EM RES101进行离子研磨，方向0°－90°可调；离子源能量可变，可进行高能量或低能量离子束研磨。带有内置式CCD摄像头，可全程观察样品处理过程。带有交换预抽室，保证样品仓持久高真空。