仪器设备

X射线衍射仪

文章来源:发布时间:2011-08-01打印】【关闭

仪器名称

X射线衍射仪

仪器型号

帕纳科,X’PERT-PRO MPD

放置部门

颗粒分中心

放置地点

过程大厦124房间

管 理 员

张俊

仪器原值

161万元

联系电话

13581867990

Email

zhangjun@ipe.ac.cn

功能

    配备有常规相分析组件、薄膜附件、高温附件(HTK16,变温范围为室温至1600℃)、小角散射附件,该仪器最大特点是采用聚焦光路超能探测器X'Celerator,探测器数量超过100个,可使探测器的接收效率或接收强度提高100倍,极大减少数据收集时间,高质量粉末衍射图谱仅在几分钟内即可得到。另外,光路采用模块化,各种功能之间切换时间小于十分钟,切换后不需重新调整光路。

    聚焦光路:粉末物相定性、定量分析;晶体结构参数的测定,Reitveld精修;平行光路:多层薄膜物相定性、厚度测量;材料的高温相变研究;小角散射:测定颗粒尺寸在1nm~300nm范围内的粉末粒度分布。

技术参数指标

功率:3kW

测角仪精度:0.0001?

测角仪重现性:0.0001

设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)

对外服务时间及收费

对外服务时间为周一至周五830—1730,统一在中科院仪器平台上进行预约。

收费标准:常规测量:60/个(所外),40/个(所内)

 薄膜测量:100/个(所外),70/个(所内)

 变温测量:200/小时(所外),140/小时(所内)

备注