高分辨场发射透射电子显微镜
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仪器名称 |
高分辨场发射透射电子显微镜 |
厂家型号 |
日本电子JEM-2100F | |
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放置部门 |
公共测试平台 |
放置地点 |
展览楼102-2 | |
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管 理 员 |
吴慧 |
购买价格 |
567万人民币 | |
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联系电话 |
010-57298935 |
Email： |
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功能 |
高分辨场发射透射电子显微镜能提供极微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面的信息；主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察；物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察；结合能谱仪(EDS)得到纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布分析。该仪器包含以下配置：超高分辨场发射透射电子显微镜分析系统；电制冷能谱仪系统；原位电学测量系统 | |||
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技术参数指标 |
分辨率：点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.1nm；STEM分辨率：0.2nm 最小束斑尺寸：TEM模式：2nm以下；EDS模式/纳米束电子衍射(NBD)模式/会聚束电子衍射(CBD)模式：0.5nm以下； 放大倍率：MAG模式： x2,000 - x1,500,000；LOW MAG模式：x50 - x6,000；SA MAG模式： x8,000 – x800,000； 加速电压: 100,120,200kV 样品移动范围：2mm(X, Y); 0.2mm(Z) 样品倾斜角度：标准样品台 ±25° 真空系统：真空度：电子枪室 优于10-7 Pa；样品室 优于2×10-5 Pa； 能谱分析仪(EDS)：探测器： Si(Li)半导体探测器；能量分辨率：优于133eV ；有效检测面积：80mm2 ；元素分析范围：B5-U92；探测器制冷方式：电制冷 ；CCD相机技术参数 ；分辨率：4K x 2.7K 像素 ；CCD相机有效面积大于：36mm x 24mm | |||
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对外服务时间及收费 |
对外服务时间为周一至周五9：00—17:30，统一在中科院仪器平台上进行预约。 | |||
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备注 |
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