热场发射扫描电子显微镜
仪器名称 |
热场发射扫描电子显微镜 |
仪器型号 |
JSM 7610F | ||||||||
放置部门 |
物质分中心 |
放置地点 |
大厦108房间 | ||||||||
管 理 员 |
何明明 |
设备原值 |
190万元 | ||||||||
联系电话 |
010-82544924 |
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mmhe@ipe.ac.cn | ||||||||
功能 |
形貌观察:金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二位、三维材料的表面、断面形貌观察;纳米材料显微结构、尺寸分析;材料微结构和相分布观察。是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。 | ||||||||||
技术参数指标 |
加速电压:0.01-30KV,分辨率:1.0nm(15KV)、1.3nm(1KV),束流200nA(15kV)(浸没式肖特基电子枪),样品台减速模式:可有效降低不导电样品的荷电效应:如碳材料、半导体以及聚合物。 | ||||||||||
对外服务时间及收费 |
对外服务时间: 周一至周五8:30—18:00,统一在中科院仪器平台上预约。 收费标准: 测定形貌分析:400元/小时 | ||||||||||
备注 |
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