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电子探针显微分析仪(EPMA)
2023-05-26 |     【关闭窗口】
    

仪器名称

电子探针显微分析仪(EPMA)

仪器型号

JXA-8230

放置部门

公共技术中心

放置地点

展览楼(工程实验楼)109

管理员

王一凡

设备原值

 

联系电话

010-82545040

Email

yifanwang@ipe.ac.cn

功能

电子探针显微分析仪(EPMA可对固体样品进行微观形貌观察和化学组成的定性、定量分析,由于其能量分辨率、灵敏度远高于能谱,所以它在高精度定量分析,轻元素、痕量元素分析等方面具有显著的优势。配置的软X射线(SXES)附件,既可以实现LiBe等超轻元素的探测,还可以对特定元素的化学结合态进行解析,结合电子探针实现从锂(Li)到铀(U)全元素的点、线、面分析以及价态分析。

技术参数指标

(1)   二次电子分辨率:LaB6灯丝: 30kV  5 nm ,  W灯丝: 30kV  6 nm

(2)   加速电压: 0~30 kV

(3)   束流稳定性:±0.05%/h

(4)   分析精度:优于1%(主元素,含量>5%),优于5%(次要元素,含量~1%)

(5)   EPMA能量分辨率: 8 eV (FWHM@Fe-K

(6)   SXES能量分辨率:  0.3eV (Al-L光谱图73eV处测试)

对外服务时间及收费

对外服务时间:

周一至周五8:3017:30,自主上机可开放晚上机时。

统一在中科院仪器平台(http://samp.cas.cn)上预约,首次预约请务必提前联系仪器管理员。

收费标准:定性/定量分析500/小时,软X射线分析:600/小时

备注

2007-2016 版权所有:中国科学院过程工程研究所 备案序号:京ICP备10002620号
地址:北京市海淀区中关村北二街1号 邮箱:北京353信箱 邮编:100190
电话:86-10-62554241 传真:86-10-62561822